电阻失效原因分析

电阻器、电位器的失效机理视类型不同而不同。非线形电阻器和电位器主要失效模式为开路、阻值漂移、引线机械损伤和接触损坏；线绕电阻器和电位器主要失效模式为开路、引线机械损伤和接触损坏

主要分为以下四类：

01碳膜电阻器：引线断裂、基体缺陷、膜层均匀性差、膜层刻槽缺陷、膜材料与引线端接触不良、膜与基体污染等

02金属膜电阻器：电阻膜不均匀、电阻膜破裂、引线不牢、电阻膜分解、银迁移、电阻膜氧化物还原、静电荷作用、引线断裂、电晕放电等

03线绕电阻器：接触不良、电流腐蚀、引线不牢、线材绝缘不好、焊点熔解等

04变电阻器：接触不良、焊接不良、接触破裂或引线脱落、杂质污染、环氧胶不好、轴倾斜等

电阻容易产生变质和开路故障。电阻变质后往往是阻值变大的漂移。电阻一般不进行修理，而直接更换新电阻。线绕电阻当电阻丝烧断时，某些情况下可将烧断处理重新焊接后使用

电阻变质多是由于散热不良、过分潮湿或制造时产生缺陷等原因造成的，而烧坏则是因电路不正常，如短路、过载等原因所引起。电阻烧坏常见有两种现象，一种是电流过大使电阻发热引起电阻烧坏，此时电阻表面可见焦糊状，很容易发现；另一种情况是由于瞬间高压加到电阻上引起电阻开路或阻值变大，这种情况下电阻表面一般没有明显改变，在高压电路中经常可发现这种故障现象的电阻

被烧坏的电阻

可变电阻器或电位器主要有线绕和非线绕两种。它们共同的失效模式有：参数漂移、开路、短路、接触不良、动噪声大，机械损伤等。但是实际数据表明：实验室试验与现场使用之间主要的失效模式差异较大，实验室故障以参数漂移居多，而现场以接触不良、开路居多

电位器接触不良的故障，在现场使用中普遍存在。如在电信设备中达90% ，在电视机中约占87%，故接触不良对电位器是致命的薄弱环节

造成接触不良的主要原因如下：

01接触压力太小、应力松弛、滑动接点偏离轨道或导电层、机械装配不当，或者由于很大的机械负荷（如碰撞、跌落等）导致接触变形等

02导电层或接触轨道因氧化、污染，而在接触处形成各种不导电的膜层

03导电层或电阻合金线磨损或烧毁，致使滑动点接触不良

电位器开路失效主要是由局部过热或机械损伤造成的。例如，电位器的导电层或电阻合金线氧化、腐蚀、污染或者由于工艺不当（如绕线不均匀，导电膜层厚薄不均匀等）所引起的过负荷，产生局部过热，使电位器烧坏而开路；滑动触点表面不光滑，接触压力又过大，将使绕线严重磨损而断开，导致开路；电位器选择与使用不当，或电子设备的故障危及电位器，使其处于过负荷或在较大的负荷下工作。这些都将加速电位器的损伤

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